偏光显微镜产品介绍
偏光显微镜Axio Imager
不同种主机架可供选择
编码型、部分电动型或全电动型主机组合搭配，满足您的个性化需求。
自动组件识别技术值得信赖
自动组件识别技术，使您方便的使用显微镜设置。所有电动主机架能够自动识别物镜。
此外，ACR 技术还能在全电动 Z 系列主机中识别反射光模块。系统能自动对组件的变换进行登记。
无振动设计确保可靠的长时间成像
借助 Axio Imager 出色的稳定性得以实现可随时间变化的测量和高放大倍率观察。
物镜转盘、z 轴升降台和载物台被设计为一个紧凑式无振动单元，独立于主机架的其余部分。
这种所谓的 "stable cell" 结构设计能够创建理想的测量条件，以获得超高质量的观测结果。
扩展功能令操作更舒适
简化复杂程序。通过主机架或外置工作站上的触摸屏来控制全部电动化组件。
保存个性化设置并实现一键还原。聚焦操作方便直观 – 符合人体工程学设计的触控式按钮。
或者通过任意摆放的控制面板（可完全与主机架分离）来操作偏光显微系统。
观察方式和光路管理器能够自动选择合适的设置，以生成可重现且可靠的观测结果。
锥光观察技术：使用偏光显微镜可以实现快速可靠的晶体结构分析
偏光显微镜能够同时采集无畸变的和锥光的图像信息。采用特殊设计的偏光镜筒通过辅助中间像平面可以使物体、十字准线和可变光阑同时可见。
通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至 10μm 的晶体粒度。
已对中的 Bertrand 光路方便开关。这一特性让您在不同技术之间进行快速切换 – 甚至在采集图像或使用视频设备时。
始终如一的测量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游标尺的旋转、球轴安装式载物台可以轻松实现测量，（例如：用于测量矿物的解理角）
光程差测定或应变测量
大量光谱补偿器可选，涵盖从 0 至 30 λ 的测量范围。
固定光程差的补偿器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋转角度 +/- 8°
具有可变光程差的补偿器
光楔补偿器 0-4 λ
测量补偿器
Berek 倾斜补偿器 0-5 λ
Berek 倾斜补偿器 0-30 λ
偏光显微镜技术参数
偏光显微镜Axio Imager参数
光学系统 | ICCS光学系统 |
镜体 | FEM设计 ACR位置编码 |
ICCS物镜 | 5X 10X 20X 50X 100X 可选1.25X、 2.5X、 150X |
目镜 | 10X/23 |
物镜转盘 | 研究级7孔或6孔明暗场万能物镜转盘 |
观察功能转盘 | 6－10位有预留位置便于日后升级 |
观察功能 | 反射光: 明场、ADF高级暗场、圆偏光、微分干涉、荧光 |
透射光 | 明场、ADF高级暗场、圆偏光、相衬 |
光源 | 12V100W卤素灯,智能化光路管理器,光强自动可调 |
光学附件 | 目镜测微尺，台尺，各种滤色片 |
数字化平台 | 可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件) |
偏光显微镜标准配置
配置 | ||
序号 | 名称 | 数量 |
1 | 主机 | 1 |
2 | 光学系统 | 1 |
3 | 目镜 | 1 |
4 | 物镜 | 1 |
5 | 物镜转盘 | 1 |
6 | 观察功能转盘 | 1 |
7 | 光源 | 1 |
8 | 目镜测微尺 | 1 |
9 | 数字转化平台 | 1 |
10 | 金相分析热台（选配） | 1 |
11 | 自动扫描台（选配） | 1 |
偏光显微镜可选配件
偏光显微镜相关视频
偏光显微镜资料下载
偏光显微镜相关产品
