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MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机

MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机

  • 型号:MarSurf XCR 20
  • 品牌:马尔德国Mahr
  • 产地:德国
遵循标准:
简介:
粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称。它具有测量精度高、测量范围宽、操作简便、便于携带、工作稳定等特点,可以广泛应用于各种金属与非金...本MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机的特点:MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机是轮廓和粗糙度测量的理想选择。一个测量站适合两种测量任务, 包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱。

MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机产品介绍

粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称。它具有测量精度高、测量范围宽、操作简便、便于携带、工作稳定等特点,可以广泛应用于各种金属与非金属的加工表面的检测,该仪器是传感器主机一体化的袖珍式仪器,具有手持式特点,更适宜在生产现场使用。

 组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20

 

描述

组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。

此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。

两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上,可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓(PCV 或 CD 120)测量。

结合 XCR 20 测量和评定软件,此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。

主要优势有:

一个测量站适合两种测量任务

* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统(如上文所述)。

* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度

另外,此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说,如有需要,您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。


MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机技术参数

接触速度(Z方向)

0.1-1mm/s

测杆长度

175mm,350mm

测量速度(文本)

0.2mm/s至4mm/s

针尖半径

25

扫描长度末尾(X方向)

200mm

分辨率

Z方向,相对探针针头:

0.38μm(350mm测杆)/0.19μm(175mm测杆)

Z方向,相对测量系统:0.04μm

扫描长度开始(X方向)

0.2mm

取样角

在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至88°,前缘高至77°

定位速度(文本)

X方向返回速度:0.2至8mm/s

Z方向:0.2至10mm/s

导块偏差

<1μm(200mm以上)

测量原则

探针法

输入

R测头,MFW250

光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10*

(*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置)

测量范围mm

(in Z)50mm

MFW 250:±25μm,±250μm,(最高±750μm);±1000μm,±10000μm(最高±30000μm)

扫描长度(文本)

自动;0.56mm;1.75mm;5.6mm;17.5mm,56mm,

(.022/.070/.224/.700/2.240英寸)

测量至挡块,可变

采样长度数量符合ISO/JIS

1至50(默认:5)

测量力(N)

1mN至120mN左右(可在MarSurf XC 20中设置)


MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机标准配置

MarSurf XCR 20

包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥

MarWin PC*

TFT 24“ 显示器

MCP 21 手动控制面板

GD 25 驱动单元

MFW 250 B 测头系统套件

PCV 200 驱动单元

标准轮廓校准套件

ST-500 测量立柱

GD 25 和 PCV 联合支架

CT 300 XY 工作台

MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机可选配件

PPS 平口虎钳

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