X 为了您更好的体验建议你全屏浏览!
当前位置:首页 >> 显微镜 >> 光学显微镜 >>日本Olympus半导体检查显微镜MX61L
半导体检查显微镜

半导体检查显微镜

进口显微镜,奥林巴斯显微镜

遵循标准:
简介:
本半导体检查显微镜的特点:能对应300 mm晶圆和17英寸FPD玻璃基板的电动型号(反射透射兼用) 应对明视场观察到荧光观察的多种观察方法。切换物镜时自动调节连动的亮度光圈等,实现了舒适的检查环境。配备14×12英寸载物台,能应对大型样本。
硬度测试
金相制样(切割,磨抛,镶嵌)
显微镜
质构仪、物性分析
橡胶制品测试
万 能试验机
环境试验箱
量具
进口打标机
红外热像仪
厚度测量
粗糙度仪
探伤仪
长度测量
汽车专用检测设备
密度浓度计
表面光学检测
三坐标测量
其他仪器设备

半导体检查显微镜产品介绍

半导体检查显微镜MX61L

能对应300 mm晶圆和17英寸FPD玻璃基板的电动型号(反射透射兼用)

应对明视场观察到荧光观察的多种观察方法。切换物镜时自动调节连动的亮度光圈等,实现了舒适的检查环境。配备14×12英寸载物台,能应对大型样本。

半导体/FPD检查显微镜MX61L

半导体/FPD检查显微镜MX61L

观察影像实例

晶圆(明视场观察)     晶圆(暗视场观察)

晶圆(微分干涉观察)  彩色滤色片(透射观察)

半导体检查显微镜技术参数

 

半导体/FPD检查显微镜 MX61L 规格

光学系统

UIS2光学系统(无限远校正)

机身

观察方法

明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光/荧光

反射/透射

反射/透射

照明装置

机身一体型(明视场,暗视场+1选件)

照明系统

反射照明

100 W卤素/100 W水银/75 W氙

透射照明

纤维光导

对焦单元

电动/手动

手动

行程

32 mm

分辨率/微调灵敏度

微调旋钮转动1周移动0.1 mm

最大样本高度

30 mm

物镜转换器

电动型

明视场微分干涉6孔
    明暗视场微分干涉5孔
    明暗视场微分干涉6孔
    明暗视场微分干涉中心输出5孔

手动式

-

载物台

行程

14×12 英寸右下手柄:356(X)×305(Y)mm(透射照明范围356×284 mm)

观察筒

广角视场(视场数22)

倒置

双目/三目观察筒

正像

三目观察筒

超宽视场(视场数26.5)

倒置

三目观察筒

正像

倾斜三目观察筒

附件单元

DUV单元/IR单元/电动载物台/自动装载

外形尺寸

710(W)×843(D)×507(H)mm(标准组合)

重量

51 kg(标准组合)

 


半导体检查显微镜标准配置


配置

序号

名称

数量

1

主机

1

2

光学系统

1

3

照明装置

1

4

对焦单元

1

5

物镜转换器
5孔;6孔

1

6

载物台(可选)
电动载物台;自动装载

1

7

观察筒(可选)
广角视场;超广角视场

1

8

附件单元
DUV单元;IR单元

/


半导体检查显微镜相关视频

暂时不能提供,如需要详细资料,请主动与我们联系。

半导体检查显微镜资料下载

暂时不能提供,如需要详细资料,请主动与我们联系。

半导体检查显微镜相关产品

通用测量显微镜

通用测量显微镜

品牌:Mitutoyo 型号:MF-U 产地:日本

日本三丰MF-U通用测量显微镜可观察清晰无闪光正像,且视场开阔。测量精度在同类设备中最高(符合JIS B 7153标准)。使用经过验证的FS 光学系列高NA 物镜(长工作距离型)。金相显微镜和测量显微镜的功能相结合,提供了高分辨力观察和高精度测量的方案。高倍目镜观察,最高达4000X。
高精度测量显微镜

高精度测量显微镜

品牌:Mitutoyo 型号:Hyper MF/MF-U 产地:日本

日本三丰Hyper MF/MF-U高精度测量显微镜实现了高精度的测量显微镜。(最小显示分辨力0.01um)。主机的前台操作设计是基于UD(通用化设计)的理念。配备三轴电动前置控制手柄,这使传统的显微镜操作有了全新的变化,即使在快速运动的过程中也能进行精细定位。用户可选择传统的显微镜光学管路或带内置激光自动对焦功能的光学管路,其观察方法多种多样,提高了测量工作的效率。
视频显微镜系统

视频显微镜系统

品牌:Mitutoyo 型号:WIDE VMU 产地:日本

日本三丰WIDE VMU视频显微镜系统装配大视场图像传感器(相当2 型),保障光学性能不变,视场半径约为VMU 系列的3倍,视场面积扩大约7 倍,为提高检测效率做出巨大贡献。除了通常的亮视场观察,还可以进行具有适合外观检查和伤痕检查的暗视场观察、偏光特性等观察对象的偏光观察。排列多个高密度装置时,可以对宽范围的对象进行一次性检查。
半导体检测显微镜

半导体检测显微镜

品牌:Mitutoyo 型号:FS-70 产地:日本

FS-70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

北京创诚致佳科技有限公司专业从事分析测试仪器设备的研发、生产制造、市场开发、国际贸易、销售及技术服务。