Touch Probe 扫描探针产品介绍
圆柱形零件光学测量机
无与伦比的性能
光学和触觉功能的结合，使转动部件实现了完整的测量控制。
一个测量系统，多种选择。
一个全新的轴测量功能，结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统。
触摸式探头
Vicivision测量系统现在配备了一个Renishaw扫描探针，安装在光源顶部。探针可以互换，覆盖整个长度区域。
光学与触觉结合
当光学测量系统快速提供静态、几何和螺纹测量、形状和螺母测量时，触摸系统检测不可光学测量的特征。
光学和触摸组合可测量：
轴向和总轴向跳动长度；平面度；垂直性
键槽宽度；键槽深度；键槽长度
Touch Probe 扫描探针技术参数
精度 | 重复性 | |
长度值 | 3,5 + L/200 μm | 1 μm |
跳动值 | 1.2 μm | 0.3 μm |
Touch Probe 扫描探针标准配置
Touch Probe 扫描探针可选配件
Touch Probe 扫描探针相关视频
Touch Probe 扫描探针资料下载
Touch Probe 扫描探针相关产品
型号:X5X10
MTL X5和MTL X10是专门设计用于测量微型机械零件、牙科植入物、手表零件和通用微型零件的光学测量机。
这种高分辨率的机器甚至能检测到最小的细节。它具备为各种需求而设计的测量工具：静态测量、六角螺帽和螺纹分析。
这种高分辨率的机器甚至能检测到最小的细节。它具备为各种需求而设计的测量工具：静态测量、六角螺帽和螺纹分析。
Touch Probe 扫描探针配备在Vicivision测量系统的光源顶部, 结合具体的光学技术方法和触摸探针测量系统，使转动部件实现了完整的测量控制。可测量轴向和总轴向跳动长度、平面度、垂直性、键槽宽度、键槽深度、键槽长度。
